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焊錫技術(shù)生產(chǎn)工藝錫線/錫條-焊點(diǎn)的缺陷分析與工藝改進(jìn)

時(shí)間:2018-08-08

本文將結(jié)合實(shí)際工作中的一些體會(huì)和經(jīng)驗(yàn),就BGA焊點(diǎn)的接收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷表現(xiàn)及可靠性等問(wèn)題展開(kāi)論述,特別對(duì)有有爭(zhēng)議的一種缺陷,空洞進(jìn)行較為詳細(xì)透徹的分析,并提出一些改善BGA焊點(diǎn)質(zhì)量的工藝改進(jìn)的建議。

        BGA器件的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,現(xiàn)在很多新產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)大量地應(yīng)用這種器件,由于眾所周知的原因,BGA的焊接后焊點(diǎn)的質(zhì)量和可靠性如何是令很多設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)人員、組裝加工人員頗為頭痛的問(wèn)題。由于無(wú)法用常規(guī)的目視檢查BGA焊點(diǎn)的質(zhì)量,在調(diào)試電路板發(fā)現(xiàn)故障時(shí),他們經(jīng)常會(huì)懷疑是BGA的焊接質(zhì)量問(wèn)題或BGA本身芯片的原因,那么究竟什么樣的BGA焊點(diǎn)是合格的,什么樣的缺陷會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)失效或引起可靠性問(wèn)題可靠性問(wèn)題呢?本文將就BGA焊點(diǎn)的接收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷表現(xiàn)及可靠性等問(wèn)題展開(kāi)論述,特別對(duì)有爭(zhēng)議的一種缺陷空洞進(jìn)行較為透徹的分析。

1BGA簡(jiǎn)介

  BGA是一種球柵陳封裝的器件,它出現(xiàn)于20世紀(jì)90年代初,當(dāng)時(shí)由于有引線封裝的器件引腳數(shù)越來(lái)越多,引線間距越來(lái)越小,最小的器件間距已經(jīng)達(dá)到0.3mm(12mil), 這對(duì)于組裝來(lái)講,無(wú)論從可制造性或器件焊接的可靠性都已經(jīng)達(dá)到了極限,出錯(cuò)的機(jī)會(huì)也越來(lái)越大。這時(shí)一種新型的球柵陣列封裝器件出現(xiàn)了,相對(duì)于同樣尺寸的QFP器件,BGA能夠提供多至幾倍的引腳數(shù)(對(duì)于BGA來(lái)講其芯片下面的焊球就相當(dāng)于引腳)而引腳的間距還比較大,這對(duì)于組裝來(lái)講是件好事,可以大幅度地提高焊接合格率和一次成功率。

   通常塑料封裝的PBGA是應(yīng)用在通信產(chǎn)品和消費(fèi)產(chǎn)品上最多的一種器件,它的焊球成分是普通的63n/37Pb,共晶焊料。軍品上有時(shí)應(yīng)用陶瓷封裝的CBGA器件,它的焊球是一種高溫的10Pb/90 Sn的非共晶焊料。隨著BGA器件的不斷發(fā)展,在美國(guó)和日本都開(kāi)發(fā)出了更小封裝的微型BGA,其封裝尺寸只比芯片大不超過(guò)20%,一般被子稱作μBGA(microBGA)或CSP,它們的焊球最小已達(dá)到0.3mm(12mil),焊球間距最小已達(dá)到0.5mm(12mil)。實(shí)際上,對(duì)于印制板制造廠來(lái)講,在如此小焊球間距間制作過(guò)孔是一項(xiàng)難度非常高的工作。

        2BGA焊拉質(zhì)量的檢查對(duì)于BGA來(lái)講由于焊球在芯片的下面,焊接完成之后很難去判斷其焊接質(zhì)量。在沒(méi)有檢查設(shè)備的情況下,先目視觀察最外面一圈焊的塌陷是一致,再將芯片對(duì)著光看,如果每一排每一列都能透過(guò)光,那么可以斷定沒(méi)有連焊,有時(shí)尺寸大一點(diǎn)的焊錫也能看見(jiàn)。但用這種方法判斷是否里面的焊點(diǎn)是否存在其它缺陷或焊點(diǎn)里面是否有空洞。要想更清楚地判斷焊點(diǎn)的質(zhì)量,還必須使用X光焊點(diǎn)檢查儀。傳統(tǒng)的二維X射線直射式照相設(shè)備比較便宜,但其缺點(diǎn)是在PCB板的兩面的所有焊點(diǎn)都同時(shí)在一張照片上顯影,對(duì)于在同一位置兩面都有元件的情況下,這些焊錫形成的陰影會(huì)重疊起來(lái),分不清是哪個(gè)面的元件,如果有缺陷的話,也分不清是哪個(gè)層的問(wèn)題。這樣,無(wú)法滿足精確地確定焊接缺陷的要求。我們使用的HP?。担模仉娐钒鍣z查儀是專門(mén)用來(lái)檢查焊點(diǎn)的X射線斷層掃描檢查設(shè)備。當(dāng)然它不僅能夠檢查BGA,電路板上所有封裝的焊點(diǎn)它都可以檢查。雖然以前人們認(rèn)為這種設(shè)備太昂貴,用來(lái)進(jìn)行焊點(diǎn)的檢查成本太高,但隨著BGA器件的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,人們已經(jīng)能接受這種昂貴的設(shè)備了。

        3BGA焊點(diǎn)的接收標(biāo)準(zhǔn)不管用哪種檢查設(shè)備進(jìn)行檢查,判斷焊點(diǎn)的質(zhì)量是否合格都必須有依據(jù)。IPC-A-610C 12.2.12專門(mén)對(duì)BGA焊點(diǎn)的接收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了定義。優(yōu)選的BGA焊點(diǎn)的要求是焊點(diǎn)光滑、圓、邊界清晰、無(wú)空洞,所有焊點(diǎn)的直徑、體積、灰度和對(duì)比度均一樣,位置對(duì)準(zhǔn),無(wú)偏移或扭轉(zhuǎn),無(wú)焊錫球。焊接完成后,優(yōu)選的標(biāo)準(zhǔn)是追求的目標(biāo),但作為合格焊點(diǎn)的判據(jù),還可以比上述標(biāo)準(zhǔn)要求稍微放松。如位置對(duì)準(zhǔn),允許BGA焊點(diǎn)相對(duì)于焊盤(pán)有不超過(guò)25%的偏移量,對(duì)于焊錫球也不是絕對(duì)不允許存在,但焊錫球不能大于相鄰最近的兩個(gè)焊球間距的25%。

        4BGA焊點(diǎn)的典型缺陷BGA的典型缺陷包括:連焊、開(kāi)路、焊球丟失、大空洞、大焊錫球和焊點(diǎn)邊緣模糊。

5有爭(zhēng)議的一種缺陷

  空洞目前尚存在爭(zhēng)議的一個(gè)問(wèn)題是關(guān)于BGA中空洞的接收標(biāo)準(zhǔn)??斩磫?wèn)題并不是BGA獨(dú)有的。在通孔插裝及表面貼裝及通孔插裝元件的焊點(diǎn)通常都可以用目視檢查看到空洞,而不用X射線。在BGA中,由于所有的焊點(diǎn)隱藏在封裝的下面,只有使用X射線才能檢查到這些焊點(diǎn)。那么空洞一定對(duì)BGA的可靠性有負(fù)面影響嗎?不一定。有些人甚至說(shuō)空洞對(duì)于可靠性是有好處的。IPC-7095標(biāo)準(zhǔn)“實(shí)現(xiàn)BGA的設(shè)計(jì)和組裝過(guò)程”詳述了實(shí)現(xiàn)BGA和的設(shè)計(jì)及組裝技術(shù)。IPC-7095委員會(huì)認(rèn)為有些尺寸非常小,不能完全消除的空洞可能對(duì)于可靠性是有好處的,但是多大的尺寸應(yīng)該有一個(gè)界定的標(biāo)準(zhǔn)。

         5.1空洞的位置及形成原因在BGA的焊點(diǎn)檢查中在什么位置能發(fā)現(xiàn)空洞呢?BGA的焊球可以分為三個(gè)層,一個(gè)是元件層(靠近BGA元件的基板),一個(gè)是焊盤(pán)層(靠近PCB的基板),再有一個(gè)就是焊球的中間層。根據(jù)不同的情況,空洞可以發(fā)生在這三個(gè)層中的任何一個(gè)層??斩词鞘裁磿r(shí)候出現(xiàn)的呢?BGA焊球中可能本身在焊接前就帶有空洞,這樣在再流焊過(guò)程完成后就形成了空洞。這可能是由于焊球制作工藝中就引入了空洞,或是PCB表面涂覆的焊膏材料的問(wèn)題導(dǎo)致的。另外電路板的設(shè)計(jì)也是形成空洞的一個(gè)主要原因。例如,把過(guò)孔設(shè)計(jì)在焊盤(pán)的下面,在焊接的過(guò)程中,外界的空氣通過(guò)過(guò)孔進(jìn)入熔溶狀態(tài)的焊球,焊接完成冷卻后焊球中就會(huì)留下空洞。焊盤(pán)層中發(fā)生的空洞可能是由于焊盤(pán)上面印刷的焊膏中的助焊劑在再流焊接過(guò)程中揮發(fā),氣體從熔深的焊料中逸出,冷卻后就形成了空洞。焊盤(pán)的鍍層不好或焊盤(pán)表面有污染都可能是在焊盤(pán)層出現(xiàn)空洞的原因。通常發(fā)現(xiàn)空洞機(jī)率最多的位置是在元件層,也就是焊球的中央到BGA基板之間的部分。這有可能是因?yàn)椋校茫律厦妫拢牵恋暮副P(pán)在再流焊接的過(guò)程中,存在有空氣氣泡和揮發(fā)的助焊劑氣體,當(dāng)BGA的共晶焊球與所施加的焊膏在再流焊過(guò)程中熔為一體時(shí)形成空洞。如果再流溫度曲線在再流區(qū)時(shí)間不夠長(zhǎng),空氣氣泡和助焊劑中揮發(fā)的氣體來(lái)不及逸出,熔溶的焊炒已經(jīng)進(jìn)入冷卻區(qū)變?yōu)楣虘B(tài),便形成了空洞。所以,再流溫度曲線是形成空洞的種原因。共晶焊料63n/37Pb的BGA最易出現(xiàn)空洞,而成分為10Sn/90Pb的非法共晶高熔點(diǎn)焊球的BGA,熔點(diǎn)為302℃,一般基本上沒(méi)有空洞,這是因?yàn)樵诤父嗳刍脑倭骱附舆^(guò)程中BGA上的焊球不熔化。

         5.2空洞的接收標(biāo)準(zhǔn)空洞中的氣體存在可能會(huì)在熱循環(huán)過(guò)程中產(chǎn)生收縮和膨脹的應(yīng)力作用空洞存在的地方便會(huì)成為應(yīng)力集中點(diǎn),并有可能成為產(chǎn)生應(yīng)力裂紋的根本原因。但是空洞的存在由于減小了焊料球所申的過(guò)分間,也就減小了焊料球上的機(jī)械應(yīng)力。具體減小多少還要視空洞的尺寸、位置、形狀等因素而定。IPC-7095中規(guī)定空洞的接收/拒收標(biāo)準(zhǔn)主要考慮兩點(diǎn):就是空洞的位置及尺寸??斩床徽撌谴嬖谠谑裁次恢?,是在焊料球中間或是在焊盤(pán)層或元件層,視空洞尺寸及數(shù)量不同都會(huì)造成質(zhì)量和可靠性的影響。焊球內(nèi)部允許有小尺寸的焊球存在??斩此伎臻g與焊球空間的比例可以按如下方法計(jì)算:例如空洞的直徑是焊球直徑的50%,那么空洞所占的面積是焊球的面積的25%。IPC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的接收標(biāo)準(zhǔn)為:焊盤(pán)層的空洞不能大于10%的焊球面積,也即空洞的直徑不能超過(guò)30%的焊球直徑。當(dāng)焊盤(pán)層空洞的面積超過(guò)焊球面積的25%時(shí),就視為一種缺陷,這時(shí)空洞的存在會(huì)對(duì)焊點(diǎn)的機(jī)械或電的可靠性造成隱患。在焊盤(pán)層空洞的面積在10%~25%的焊球面積時(shí),應(yīng)著力改進(jìn)工藝,消除或減少空洞。

6結(jié)論

  減少BGA缺陷的工藝改進(jìn)建議共晶焊料的BGA在焊接過(guò)程形成焊點(diǎn)時(shí),PCB板上涂覆的焊膏和元件本揣的錫球要熔為一體,這個(gè)過(guò)程分為兩個(gè)階段的塌落。第一個(gè)階段的塌落是PCB板上的焊膏先熔化,元件塌下來(lái),第二個(gè)階段是元件本身的錫球也熔化并與PCB板上的熔化的焊膏熔為一體,錫球再次塌落,形成一個(gè)扁圓形的焊點(diǎn)。要形成完美的焊點(diǎn),應(yīng)注意以下幾個(gè)方面:

(1) 使用新鮮的焊膏,保證焊膏攪拌均勻,焊膏涂覆的位置準(zhǔn)確,元件放置的位置準(zhǔn)確。

(2) 對(duì)于塑料封裝的PBGA要在焊接前以100℃烘干6-8小時(shí),有氮?dú)鈼l件的話更好。

(3) 回流溫度曲線是一個(gè)非常重要的因素。在焊接過(guò)程中,要保證焊接曲線過(guò)渡自然,使器件均勻受熱,尤其在焊接區(qū),要保證所有焊點(diǎn)充分熔化。否則將會(huì)由于溫度不夠形成冷焊點(diǎn),焊點(diǎn)表面粗糙,或第二次塌落階段沒(méi)有充分熔化,PCB表面的焊膏與元件本身的焊錫中間出現(xiàn)裂紋,造成虛焊或開(kāi)焊。

(4) 涂覆的焊膏量必須適當(dāng),焊膏的粘度應(yīng)起到對(duì)器件暫時(shí)固定的作用,還要保證在焊料熔化的焊接過(guò)程中不連焊。通常制作BGA模板時(shí),BGA焊點(diǎn)的開(kāi)孔尺寸通常為焊盤(pán)尺寸的70~80%,模板厚度通常為0.15mm(6mil)。

(5) 設(shè)計(jì)PCB上BGA的焊盤(pán)時(shí)一定要將所有焊點(diǎn)的焊盤(pán)設(shè)計(jì)成一樣大,如果某些過(guò)也民必須設(shè)計(jì)到焊盤(pán)的下面,也應(yīng)當(dāng)?shù)秸液线m的PCB制造廠,在該焊盤(pán)的位置鉆孔,而不能因?yàn)殂@不了那么小的過(guò)孔,就擅自將焊盤(pán)改大,這樣的話焊接后大焊盤(pán)和小焊盤(pán)上的錫量不一樣多,高度也不一致造成虛焊或開(kāi)路。

(6) 此外,還要強(qiáng)調(diào)一點(diǎn)是關(guān)于PCB 制作時(shí)的阻焊膜問(wèn)題。由于阻焊膜不合格造成的焊接失敗已經(jīng)很多了,所以在焊接BGA之前要先檢查焊盤(pán)周?chē)淖韬改な欠窈细?,焊接面焊盤(pán)周?chē)倪^(guò)孔也一定要涂覆阻礙焊膜。如果制作時(shí)把阻焊膜加到了PCB的另一面就沒(méi)用了。加阻焊膜的目的是為避免在焊接時(shí)空氣從下面進(jìn)來(lái)形成空洞,同時(shí)也可以避免焊錫從通孔中流出。如果在印刷焊膏時(shí)不得返工的話,也不會(huì)有多余的焊錫并不影響焊接質(zhì)量,因?yàn)檫^(guò)孔本身就是電鍍孔,但如果焊錫太多或產(chǎn)生拉尖、錫球之類(lèi)的問(wèn)題,就會(huì)留下短路的隱患,有人稱其為“虛短”缺陷。返修BGA是迫不得已的辦法,雖然有可能修復(fù)一片焊接失敗的BGA芯片,但修復(fù)一片BGA要費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間,還必須有合適的焊球和能夠精確對(duì)位的返修工具。植球的方法已經(jīng)有不少論文在介紹了,但實(shí)際操作時(shí)植球的成功率通常不是很高。有時(shí)為了返修一片BGA要花費(fèi)至少半天的時(shí)間,由此造成的資源浪費(fèi)是顯而易見(jiàn)的。即使修復(fù)好了再焊接上去,這個(gè)芯片已經(jīng)承受了至少4次的回流周期,這肯定會(huì)影響焊接的可靠性,比如會(huì)加速疲勞和蠕變失效??傊诤附覤GA之前做好充分的準(zhǔn)備,完全有可能實(shí)現(xiàn)高的一次通過(guò)率,增加一次成功的把握。 盡量減少或消除缺陷,不返修,這才是我們所追求的目標(biāo)



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